用于测量:线性位置 |
技术:电阻 |
电阻:25 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:8-DIP 模块 |
用于测量:线性位置 |
技术:光学 |
电阻:80 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:TO-5 变体,5 引线,透镜顶金属罐 |
供应商器件封装:TO-5 |
用于测量:线性位置 |
技术:光学 |
电阻:25 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:TO-8 형식 4 리드(Lead) |
供应商器件封装:TO-8 |
用于测量:线性位置 |
技术:光学 |
电阻:25 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:TO-5 变体,4 引线,透镜顶金属罐 |
供应商器件封装:TO-5 |
用于测量:线性位置 |
技术:光学 |
电阻:80 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
用于测量:线性位置 |
技术:电阻 |
电阻:600 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:模块 |
供应商:OSI Optoelectronics, Inc. |
包装:外壳 |
零件状态:有源 |
用于测量:线性位置 |
技术:电阻 |
电阻:100 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:8-DIP(0.300inch,7.62mm) |
供应商器件封装:8-DIP |
用于测量:线性位置 |
技术:光学 |
电阻:25 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:TO-8 형식 4 리드(Lead) |
供应商器件封装:TO-8 |
用于测量:线性位置 |
技术:电阻 |
电阻:300 kOhms |
安装类型:通孔 |
工作温度:-10°C ~ 60°C |
封装/外壳:24-DIP(0.600inch,15.24mm) |
供应商器件封装:24-DIP |
查看更多