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Micro-Epsilon 米铱 ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺

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  • ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT

  • 光学千分尺和激光千分尺

  • Micro-Epsilon 米铱

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特性

  • 创新激光线-非接触厚度测量,最多1280个离散测量点
  • 用横向千分尺分辨率测量窄带边缘,结合大测量范围
  • 高度动态测量- 128,000个测点/秒,即使对于结构材料,如纽扣板和检查板,也能提供高精度测量
  • 识别和补偿带钢倾斜-特别适用于纵切剪切机
  • 不需要合金补偿-真正的几何,材料独立的厚度测量
  • 经济高效的服务生命周期管理—创新的测量方法,无需同位素或x射线,从而降低相应成本
  • 线性度±5µm,测量范围40mm
  • 口宽度300毫米
  • 浸泡深度50mm至800mm
  • 根据要求提供特殊尺寸
  • 测量速率可达2khz
  • 创新的激光线-非接触式厚度测量,多达1280个离散测量点
  • Linearity of ±5 µm with measuring range of 40mm
  • 口宽300mm

微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量,以及产品和服务的可靠性,使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装证明了这一点,MTS 8202.LLT配备了激光三角扫描仪,这意味着测量与目标材料的表面性质无关。因此,金属表面的结垢或镜面效应被吸收。此外,与点传感器相比,该系统具有更高的精度和更大的嘴宽。自动在线校准确保测量不受温度变化的影响。测量线垂直于物料流布置,使系统能够处理横向带钢倾斜。,特殊功能:

ThicknessCONTROL MTS 8202.LLT 光学千分尺和激光千分尺技术参数

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性 能
测量能力 SPC Capability
特 性
量程 11.81 inch (300 mm)
测量技术 Optical; Non-contact
测量刻度 / 单位 English; Metric
物 理
镜头类型 Single-piece head
安装/加载选项 Automatic or Inline
更多技术信息
激光 / 可见度类型 Laser Class II
更多规格
精度 40 µm
产品类别 Optical Micrometers and Laser Micrometers

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