Micro-Epsilon 米铱 ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺
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ThicknessCONTROL MTS 8202.T
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Micro-Epsilon 米铱
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Micro-Epsilon 米铱
产品介绍
微Epsilon为金属工业提供创新的测量和检测系统。最新技术用于厚度、剖面和表面测量。性能和质量，以及产品和服务的可靠性，使微Epsilon成为金属工业光学厚度测量检测系统的领先供应商之一。世界上13个国家在铣削生产线和加工生产线的大量成功安装说明了这一点。厚度测量系统作为一个C形框架，带有点激光厚度控制MTS 8202.T，MTS 8202.T配有激光三角测量传感器，确保材料独立测量。在生产过程中，两个传感器的激光束均采用专门开发的光电工具进行优化调整，以提供最高的精度。该系统测量速度快，是监测高动态过程的理想系统。自动在线校准可确保测量不受温度影响
特性
- 创新的激光线-非接触式厚度测量，多达1280个离散测量点
- 用横向千分尺分辨率测量窄带边缘，结合大测量范围
- 高动态测量-128000个测量点/秒，即使对于结构材料，如按钮板和网纹板，也能提供高精度
- 带钢倾斜的识别和补偿-特别适用于纵向剪切剪
- 不需要合金补偿-真正的几何，材料独立的厚度测量
- 具有成本效益的服务-生命周期管理-不使用同位素或x射线的创新测量方法，从而降低相应的成本
- ±4µm的线性度
- 测量范围可达20mm
- 浸泡深度50mm至1000mm
- 特殊尺寸按要求
- 测量速率高达10khz
- 创新激光线-非接触厚度测量，最多1280个离散测量点
- 无需合金补偿-实际几何、材料独立厚度测量
- Linearity from ± 4µm
- 根据要求提供特殊尺寸
ThicknessCONTROL MTS 8202.T 光学千分尺和激光千分尺技术参数
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| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 测量能力 | SPC Capability | |
| 特 性 | ||
| 量程 | 0.7874 inch (20 mm) | |
| 测量技术 | Optical; Non-contact | |
| 测量刻度 / 单位 | English; Metric | |
| 物 理 | ||
| 镜头类型 | Single-piece head | |
| 安装/加载选项 | Automatic or Inline | |
| 更多技术信息 | ||
| 激光 / 可见度类型 | Laser Class II | |
| 更多规格 | ||
| 产品类别 | Optical Micrometers and Laser Micrometers | |
| 精度 | 4 µm |
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