Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc. LabMaster® : Model LMS 200 光学千分尺和激光千分尺
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LabMaster® : Model LMS 200
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Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc.
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Pratt & Whitney Measurement Systems, Inc.
产品介绍
我们的最高精度和自动化垂直测量仪器可以测量长度和厚度，只需按下一个按钮。我们独有的数字干涉仪通过比较测量探头的位置与HeNe激光光源的波长来测量样品的尺寸，有效地将波长与被测零件耦合。我们的专利激光路径与测量轴一致，以消除阿贝偏移误差。，Labmaster标准是除了测量块之外还有更多用途的最终测量块比较器，可以用作高精度高度测量仪。Labmaster标准也是测量薄膜、网格、磁带或磁盘基底以及金属箔等软材料厚度的首选仪器。此外，球的制造业在很大程度上依赖于Labmaster标准，借助于为这种应用而专门设计的几个铁砧，可以快速准确地测量球。
特性
- 球/球
- 磁带/磁盘基板
- 光学组件
- 聚乙烯薄膜
- 计块
- 涂层厚度标准
- 插销量规
- 螺纹钢丝
- 膜厚度
- 块规栈
- 筛网厚度
- 纺织品
- 精密零件
- 刚性设计-最大的重复性和再现性
- 电动探针-提高系统稳定性并消除操作员的影响
- 数字激光干涉仪-保证最大的分辨率，可追溯性，和性能
- 两个仪器在一起-一个直读仪(厚度/高度规)和一个1-1量规块比较器
- 两步校准-先进的节省时间功能只允许校准30秒
- 自动循环-增加测量吞吐率时，测量标准规组
- GageCal® PC control software - Microsoft® Windows based software reduces data entry, eliminates transcription errors, and speeds up measurements. Built-in gage tolerancing for many applications including balls, pins, plugs, blocks, threads, etc.
- 灵活的铁砧夹具-确保系统的完整性，并适应各种测量应用
- 磁带/磁盘基片
- 塞规和销规
- 电动探针-提高系统稳定性，消除操作人员的影响
LabMaster® : Model LMS 200 光学千分尺和激光千分尺技术参数
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| 规格项 | 参数值 | 勾选搜索替代 |
| 性 能 | ||
| 测量能力 | SPC Capability | |
| 最小分辨率 | 1.00E-7 inch (2.54E-6 mm) | |
| 重复性 | 1.6 inches | |
| 特 性 | ||
| 量程 | 0.0 to 8 inch (0.0 to 203 mm) | |
| 测量技术 | Optical | |
| 测量刻度 / 单位 | English; Metric | |
| 连 接 & 显 示 | ||
| 显示 | Digital Display | |
| 物 理 | ||
| 镜头类型 | Single-piece head | |
| 安装/加载选项 | Benchtop or Floor | |
| 更多技术信息 | ||
| 激光 / 可见度类型 | Visible Laser Light (680nM) | |
| 更多规格 | ||
| 精度 | 1.6 inches | |
| 产品类别 | Optical Micrometers and Laser Micrometers |
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