产品介绍
Z系列探头适合QFN封装芯片测试,间距从300mm - 800mm。高频可靠的RFSignal完整性,自清洗系统确保移除Pad的Sn,以获得更高的测试收率。
产品替代
找到 个替代产品
资料下载
半封装测试探针(SEMI)-Z系列探针 测试探针资源附件
文件名称 | 大小 | 操作 |
---|---|---|
202109275226 | 158.88 KB | 下载 |
声明:本产品内容及配图源自互联网收集或平台用户自行上传,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点或证实其内容真实性,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。如涉及作品内容、版权等问题,请联系本网处理,侵权内容将在一周内下架整改。