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Enlitech 胜焱电子 SPD2200_新型单光子侦测器特性分析设备 视觉传感器

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  • SPD2200_新型单光子侦测器特性分析设备

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特色

SPD2200具备全光谱性能测试包含:

  • 全光谱光谱响应(SR, Spectral Responsivity)

  • 全光谱量子效率(EQE, External Quantum Efficiency)

  • 全光谱光子探测率(PDP, Photon Detection Probability)

  • 暗计数DCR (Dark Count Rate)

  • 崩溃电压BDV (Break-Down Voltage)     

SPD2200亦能够测试SPD的单光子辨析特性分析,包含:

  • Jitter

  • Afterpulsing probability

  • Diffusion tail

  • SNR

SPD2200整合了所有先进光学与电学系统,搭配光焱科技多年光感测器测试与分析的经验,提供完整与便利的软体控制介面与分析功能。 SPD2200可帮助您节省系统搭设的时间成本,并降低测试结果的不确定性。加快产品的开发周期,提升产品的竞争力。

 

实证


SPAD的暗计数与偏压关系图

SPAD暗计数与崩溃电压

在不同电压下SPAD光子探测效率的PDE光谱

 

SPAD的Jitter测量


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