小程序
传感搜
传感圈

武汉普赛斯仪表 普赛斯仪表 半导体测试设备

半导体参数CV测试仪

分享
  • 后询价或查看价格

  • 普赛斯仪表

  • 半导体测试设备

  • 武汉普赛斯仪表

  • 请咨询供应商

  • Precise Instrument 普赛斯仪表

产品介绍

半导体参数CV测试仪概述

电容-电压(C-V)测量广泛用于半导体参数测试方面,尤其是MOS  CAP和MOSFET结构。MOS(金属-氧化物-半导体)结构的电容是外加电压的函数,MOS电容随外加电压变化的曲线称之为C-V曲线(简称C-V特性),C-V曲线测试可以方便的确定二氧化硅层厚度dox、衬底掺杂浓度N、氧化层中可动电荷面密度Q1、和固定电荷面密度Qfc等参数。详询一八一四零六六三四七六;


系统方案

普赛斯半导体功率器件C-V测试系统主要由源表、LCR表、矩阵开关和上位机软件组成。LCR表支持的测量频率范围在0.1Hz~1MHz,源表(SMU)负责提供可调直流电压偏置,通过矩阵开关加载在待测件上。

进行  C-V 测量时,通常在电容两端施加直流偏压,同时利用一个交流信号进行测量。一般使用的交流信号频率在10KHz  到1MHz之间。所加载的直流偏压用作直流电压扫描,扫描过程中测试待测器件待测器件的交流电压和电流,从而计算出不同电压下的电容值。

传感专家


系统优势

频率范围宽:频率范围10Hz~1MHz连续频率点可调;                

高精度、大动态范围:提供0V~3500V偏压范围,精度0.1%;

内置CV测试:内置自动化CV测试软件,包含C-V(电容-电压),C-T(电容-时间),C-F(电容-频率)等多项测试测试功能;

兼容IV测试:同时支持击穿特性以及漏电流特性测试;

实时曲线绘制:软件界面直观展示项目测试数据及曲线,便于监控;

​扩展性强:系统采用模块化设计,可根据需求灵活搭配;


基本参数

传感专家传感专家传感专家


软件界面及功能

传感专家

CV测试界面

传感专家

CV曲线图

半导体参数CV测试仪典型配置

传感专家

产品替代

找到 个替代产品

半导体测试设备同类产品

加载中···

专家支持

0 / 300

选择图片

确定提交

提交成功

系统自动将您的问题推送给专家解答

查看专家解答
请扫码进入传感圈小程序

如何查看专家解答您的问题?

1
2
3
4