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Oxford Instruments Ultim® Max TEM 辐射探测器

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Ultim-Max-TEM,我们的SDD探测器,用于在TEM中进行纳米尺度分析和元素映射。使用一个新的低剖面80平方毫米的传感器可以在任何条件下更接近样本,提供更多的x射线计数。结合无窗结构和极端电子设备,该探测器可为200kV TEM提供高性能EDS。0.2-0.6 srad的立体角可将低能量X射线定量分析的灵敏度提高8倍,>400000 cps时,在样品温度>1000°C的条件下,在原位实验中收集光谱。

Ultim® Max TEM 辐射探测器技术参数

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探测器形式 Fixed Installation
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产品类别 Radiation Detectors
检测到的电离辐射类型 X-Ray
计算机接口 Computer Interface

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