产品介绍
IGBT测试难点: 1、由于IGBT是多端口器件,所以需要多个测量模块协同测试。 2、IGBT的漏电流越小越好,所以需要高精度的设备进行测试。 3、IGBT动态电流范围大,测试时需要量程范围广,且量程可以自动切换的模块进行测试。 4、由于IGBT工作在强电流下,自加热效应明显,脉冲测试可以减少自加热效应,所以MOSFET需要进行脉冲IV测试,用于评估期间的自加热特性。 5、MOSFET的电容曲线是其特性表征的重要内容,且与其在高频应用有密切关系。所以IGBT的电容测试非常重要。 6、IGBT开关特性非常重要,需要进行双脉冲动态参数的测试。 普赛斯1000A车规IGBT静态参数测试仪特点和优势: 单台Z大3000V输出; 单台Z大1000A输出,可并联后Z大4000A; 10us的超快电流上升沿; 同步测量; 国标全指标的自动化测试;详询一八一四零六六三四七六 技术指标
项目 | 参数 | |
集电极-发射极 | Z大电压. | 3000V |
Z大电流 | 1000A | |
精度 | 0.10% | |
漏电流测试量程 | 1uA~100mA | |
栅极-发射极 | Z大电压. | 300V |
Z大电流 | 1A(直流)/10A(脉冲) | |
精度 | 0.10% | |
Z小电压分辨率 | 30uV | |
Z小电流分辨率 | 10pA |
可测项目
集电极-发射极电压Vces,集电极-发射极击穿电压V(br)ces
集电极-发射极饱和电压Vce sat
集电极电流Ic,集电极截止电流Ices
栅极漏电流Iges,栅极-发射极阈值电压Vge(th)
栅极电阻Rg
电容测量
I-V特性曲线扫描,C-V特性曲线扫描等
普赛斯1000A车规IGBT静态参数测试仪集多种测量和分析功能一体,可精准测量功率器件(MOSFET、BJT、IGBT等)的静态参数,电压可高达3KV,电流可高达4KA。该系统可测量不同封装类型的功率器件的静态参数,具有高电压和大电流特性,uΩ级电阻,pA级电流精准测量等特点。支持高压模式下测量功率器件结电容,如输入电容,输出电容、反向传输电容等。功率器件静态参数测试系统采用模块化设计,方便用户添加或升级测量模块,适应测量功率器件不断变化的需求。详询一八一四零六六三四七六
产品替代
半导体测试设备同类产品
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