一、测试仪简介

1、BE-CP100硅压力传感器芯片参数测试仪主要特点：

★在原测试仪基础上采用PLC控制，效率更高，工作更可靠。

★采用最新触摸屏显示和调节，不用调节旋钮，设置更方便。

★采用4U标准机箱，便于与自动探针工作台配合使用。

★留有串口、USB口、网络接口，便于与自动探针工作台扩展通讯。

★设有手动测试分析模式和自动测试模式，满足不同使用要求。

★可存储测试结果20000条，可扩展参数统计统计分析功能。

2、控制与触摸屏：

PLC品牌：OMRON  

触摸屏：昆仑通态

通讯方式：HOSTLINK/232串口/TCP网络可选

3、设备外形尺寸：427mm(W)×430mm(L)×200mm(H)

4、使用电源：AC220VAC±10％；频率 50HZ±10%，200W

二、 测试仪技术参数

(1) 压力传感器芯片测试仪的技术指标正反向击穿电压：

可设置范围：电流：1~1000nA，可测试范围：电压10~100V

(2) 正反向漏电流：

可设置范围：电压10~100V，可测试范围：电流：1~1000nA

(3) 正反向失调电压：

可设置范围：电流：500~5000μA，可测试范围：±200mV，上限、下限可单独设定。

(4) 四个电阻：

可设置范围：电流：500~2000μA，可测试范围：600~10000Ω，上限、下限可单独设定，四个电阻有独立选择按键。

(5) 人机界面采用彩色触摸显示屏，参数设置不用旋钮调节。

(6) 测量数据可分类存储，并可用U盘导出统计。

(7) 对测试产品超标者，可以给测试台打点器讯号进行打点标识。

(8) 测试仪与自动探针工作台能相互通讯配合使用。

三、 其他说明

该测试仪通常是与自动探针工作台配合使用，完成硅压力传感器晶圆上芯片参数测试，并给出合格与否的判断信号，因此要求所配自动探针工作台开放通信协议，以便相互通信完成测试工作