Trilion Quality Systems ESPI 应变片

三维激光ESPI系统（激光全息）使用激光干涉法非常精确地测量平面内外的位移和应变。它被广泛应用于从疲劳试验到一般应变测量和分析。干涉法ESPI非常适合测量最小的三维位移和平面应变，分辨率约为10纳米或每米1微米。，ESPI系统包括一个高质量的数字CCD相机，计算机控制快门时间，一个或多个激光源，一种计算机控制的相移装置、所需的光学和电子驱动器以及数据采集和处理系统，集成在PC机中。激光被引导到被测物体上，相机捕获产生的散斑图像。物体在亚微米范围内的变形改变了CCD相机采集到的图像。使用适当的图像处理，两幅图像之间的差异显示为黑色干涉条纹（实时查看实际变形）。，常见用途包括：，-挠度、应变、热膨胀和残余应力测量-FEA验证-确定线性行为，甚至脆性材料的线性行为-表征异质材料-表征两种不同材料的过渡范围-蜂窝和夹层结构的质量控制