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Enlitech 光焱科技 / 胜焱电子

台湾光焱科技股份有限公司 (Enlitech) 成立于 2009 年 3 月。Enlitech 是一家以客户为导向的公司，致力于为客户提供良好的产品和服务解决方案。核心技术包括人造光源和光谱分析技术。Enlitech 的四大主要产品市场包括图像传感器测试解决方案、先进光电探测器测试系统、量子效率测试解决方案和各种光模拟器。Enlitech 服务的行业包括半导体、材料研究、航空航天、汽车、电子元件、光伏等。我们让传感器变得更好！Enlitech 致力于提供测试解决方案，使光学传感器变得更好。其主要目标是提高客户产品的核心竞争力。这些传感器测试解决方案包括晶圆级图像传感器光电子特性测试、晶圆级光学传感器量子效率测试、环境光传感器测试、CIS 模块检测、5G 光通信中的光接收器测试、dToF 光电探测器测试等。为什么选择我们启发你的想法Enlitech 坚持诚信，追求卓越，努力创新，为客户提供解决方案。在成立 “Enlitech 实验室 “后，我们致力于建立 ISO 17025:2005 质量体系，然后于2012年3月在太阳能电池光谱响应 / 量子效率领域获得 ISO / IEC 17025（TAF）的校准实验室认证。我们的理念和愿景真诚的态度按照我们的价值观行事，即诚实并信守我们对客户的承诺。提供解决方案我们投入时间和精力进行研发，为客户提供集成、推陈出新的解决方案。精益求精，不断创新毅力和决心是取得成就的先决条件。不断突破是我们的终极目标。认证TAF 认证通过评估国际标准和标准（ISO/IEC 17025），承认和促进组织在提供特定类型的认证、校准、测试、检查和能力测试项目服务的能力。Enlitech 获得 ISO / IEC 17025 的 TAF 证书，不仅提供太阳能电池光谱响应领域的校准服务，而且还确保实验室的能力高于特定水平。此外，光焱科技不断提高服务质量，为我们的客户提供更满意的服务。业务布局台湾总部：光焱科技股份有限公司上海分公司：胜焱电子科技（上海）有限公司

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Enlitech 胜焱电子 SPD2200_新型单光子侦测器特性分析设备视觉传感器

SPD2200是针对最新型的单光子侦测器（SPD, Single Photon Detector），如应用于dToF的SPAD（Single Photon Avalanche Detector）光感测器，的特性测试分析设备。
Enlitech 胜焱电子 SL-HDR_超高动态范围标准光源视觉传感器

SL-HDR标准光源系统是光焱科技根据多种国际标准，设计开发应用于多种CMOS相机模组（CCM, CIS Camera Module）的检测，包含： 1.EMVA 1288 2.IEEE P2020 3.ISO 16505 4.SMIA 5.MIPI
Enlitech 胜焱电子 SL-X_环境光传感器高分辨率校准光源视觉传感器

SL-X是一个标准光源可模拟标准室内/室外光谱，具有以下特点： 1. 可模拟多种标准光源光谱输出 2. 高光强与高动态范围 3. 高精度16 bit光强分辨率控制 4. 智能控制 5. 应用于各种光传感器的检测与性能测试
Enlitech 胜焱电子 SART_Sensor Angular Response Tes 视觉传感器

ARS（Angular Response System）是一个针对各种光传感器的收光角度分布特性测试系统。系统由一个高准值高平行模拟光源（发散角<0.1°），投射的高均匀度光斑直径大于等于25mm，照射到待测的光传感器上。系统配备的角度测试，其角度分辨率可小于0.1°，工作范围可由-90°~90°。系统软件可自动绘制角度分布图与收光曲线图，是您开发各种光传感器模块结构的最佳利器。
Enlitech 胜焱电子 SG-A _ CMOS 图像传感器测试仪视觉传感器

SG-A 系统是世界上第一个商用 CMOS 图像传感器测试仪。SG-A 可以提供最全面的 CMOS 图像传感器参数表征，如全光谱量子效率 QE、整体系统增益 K、时间性暗噪声、信噪比、绝对灵敏度阈值、饱和容量、动态范围、DSNU、PRNU、线性误差和首席射线角 CRA。被测设备可以是几种类型的 CMOS 图像传感器模块。检验程序符合 EMVA 1288 标准。因此，SG-A CMOS 图像传感器测试仪可用于进行晶圆级光学检测、加工参数控制、微透镜设计、微透镜验证。SG-A CMOS 图像传感器测试仪的高度准直光束（<1°）可以克服传统光学系统（如积分球系统）无法解决的新制造工艺的检测困难。这些工艺包括小像素（< 1 um）、BSI 和 3D 堆叠、微透镜、新的拜耳阵列设计等等。
Enlitech 胜焱电子 SG-O _ CIS/ALS/光传感器晶圆测试仪视觉传感器

SG-O 是一款 CIS /ALS / Light-Sensor 晶圆测试仪，它结合了高度均匀的光源和半自动晶圆探测器。高度均匀光源可以提供从 400nm 到 1700nm 的连续白光光谱，以及在许多不同波长下具有一定 FWHM 的单色光输出。探测器可以处理最大。200mm 晶圆尺寸和尺寸大于 1cm x 1cm 的单芯片。SG-O 集成了超低噪音热卡盘，可提供 -60°C 至 180°C 的温度范围，具有快速的升温速度和稳定性。SG-O 提供您在 CIS / ALS / 光传感器设计验证或工艺良率检查中所需的一切。