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《环境光传感器芯片参数测试方法》团体标准意见稿发布

2024-04-19
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摘要 本标准主要内容包括环境光传感器芯片参数测试方法的范围、规范性引用文件、术语和定义、总则、参数测试项等。
根据《团体标准管理条例》(国家标准委员会联合会)〔2019〕1号)、《浙江省半导体行业协会集团标准管理》有关规定,《环境光传感器芯片参数测试方法》集团标准草案由浙江省半导体行业协会组织制定,杭州朗迅科技有限公司、杭州芯云半导体科技有限公司等主要起草单位已完成,现公开征求意见,邀请各有关单位和个人对其提出宝贵意见和建议,并于2024年5月14日前向协会反馈修改意见和建议。   环境光传感器芯片是一种实时输出电信号的传感芯片,具有暗电流小、照度响应低、灵敏度高、电流随光照度增强的线性变化等特点。   环境光传感器芯片是一种实时输出电信号的传感器芯片,具有暗电流小、照度响应低、灵敏度高、电流随光照度增强的线性变化等特点。随着环境光传感器领域未来的可持续发展,将给环境光传感器芯片相关行业带来巨大的商机,为整个产业链带来可观的效益。   目前,国外环境光感芯片测试解决方案总体成本高,产品交付周期长;其他国内测试解决方案平行测试数量低,无法有效完成大规模生产测试。因此,我国对环境光传感器芯片参数的测试方法进行了相应的研究,开发了高可靠性和可重复性的测试方法,帮助测试人员更好地组织和管理测试工作,提高测试效率和效果,在实现国内替代、先进技术、经济、商业竞争力等方面具有重要性和必要性。杭州朗迅科技有限公司与省内外集成电路上下游企业、研究所联合编制了《环境光传感器芯片参数测试方法》协会的集团标准。   本文件根据GB///GB文件根据本文件T 1.1-2020年标准化工作指南 第一部分:起草标准化文件的结构和起草规则。   本标准的主要内容包括环境光传感器芯片参数测试方法的范围、标准引用文件、术语和定义、一般规则、参数测试项目等。   1.范围   根据标准的主要内容和适用对象确定范围。   2.规范引用文件   按实际引用的规范性文件按规定要求排列。   3.术语和定义   为了方便用户理解和使用标准,定义了包括“开路_短路”在内的各种测试项目 Open_Short”、“输入漏电试验 IIH/IIL”、“IIC_ 读写测试”、“输入高低电感器的类别属于   根据国标 GB/T 34069-2017物联网总体技术 对智能传感器特性及分类的规定,环境光传感器属于物理量传感器中的光学量传感器分支,属于可见光传感器分支。   从智能的角度对智能传感器进行分类,环境光传感器芯片属于集成智能传感器。   从智能的角度对智能传感器进行分类,环境光传感器芯片属于集成智能传感器。集成智能传感器采用大规模集成电路技术,在同一芯片上集成传感器敏感元件、信号调节电路、接口电路和微处理器。   5.传感器芯片参数测试用例的要求   目前国内相关标准仅查阅国家标准 GB/T 信息技术传感器网络30269.801-2017 801 部分:测试:一般要求。参数测试用例的结构在本标准中有明确的要求,至少包括以下内容:   ——测试名称   ——测试目的   ——测试描述   ——测试设备   ——初始条件   ——测试准备   ——测试步骤   ——测试判决   6.环境光传感器芯片参数测试用例的相关技术要求   本标准针对环境光传感器芯片参数试验用例中包含的具体试验要素,明确而详细的规定。可指导这类芯片产品的工程验证和量产试验的开发。   7.标准相关术语要求   参照 GB/T 7665-2005《传感器通用术语》与《传感器通用术语》的要求一致,主要涉及以下相关部分:环境光传感器芯片参数测试方法标准中涉及的相关术语:   测量结果:通过测量获得的被测值。   精度:测量结果与被测真值的一致性。   精度:测量结果与被测真值的一致性。   零点输出:在规定条件下,测量为零时传感器的输出   校准:在规定的条件下,通过一定的试验方法记录相应的输入- 输出数据,以确定传感器性能的过程。   校准曲线:根据校准数据绘制的表示传感器输入-输出关系的曲线。   偏差:一个值减去其参考值。   补偿:利用附加设备、电路或特殊材料抵消已知误差(源)的措施   详见附件。
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